您好,欢迎来到化拓教育网。
搜索
您的当前位置:首页光链路性能监控[发明专利]

光链路性能监控[发明专利]

来源:化拓教育网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:光链路性能监控专利类型:发明专利发明人:亨宁·比洛

申请号:CN200510097456.5申请日:20051228公开号:CN1815926A公开日:20060809

摘要:一种使用维特比均衡器(1)估计至少一个光链路参数的方法,对于一组所判决的比特图案(a,b,c,d,...),维特比均衡器(1)生成在光链路(2)上传输的失真光信号的信号幅度平均值(M),本方法包括下列步骤:对于给定的比特图案(a,b,c,d,...)的序列(abdg),使用平均值

(M(a),M(b),M(d),M(g))形成失真信号序列所特有的第一参数集(S),将第一参数集(S)与相同比特图案(a,b,c,d,...)的序列(abdg)的参考信号序列所特有的多个参考参数集(R1,R2,...)进行比较,每个参考参数集(R1,R2,...)具有至少一个光链路参数的已知值,以及选择与第一参数集(S)最具相关性的参考参数集(R),将所选参考参数集(R)的至少一个光链路参数的已知值用作对至少一个光链路参数的估计。一种计算机程序产品,包括实现该方法的软件或硬件。

申请人:阿尔卡特公司

地址:法国巴黎市

国籍:FR

代理机构:北京市金杜律师事务所

代理人:酆迅

更多信息请下载全文后查看

因篇幅问题不能全部显示,请点此查看更多更全内容

Copyright © 2019- huatuo9.cn 版权所有 赣ICP备2023008801号-1

违法及侵权请联系:TEL:199 18 7713 E-MAIL:2724546146@qq.com

本站由北京市万商天勤律师事务所王兴未律师提供法律服务